?用掃描電子顯微鏡分析環(huán)保低溫焊錫絲失效原因
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??在環(huán)保低溫焊錫絲與其他環(huán)保焊錫絲焊點(diǎn)或互連的失效分析方面,掃描電子顯微鏡主要用來做失效機(jī)理的分析,具體說來就是用來觀察環(huán)保低溫焊錫絲焊點(diǎn)金相組織,測(cè)量金屬間化合物,進(jìn)行斷口分析、可焊性鍍層分析以及錫須分析測(cè)量。
與光學(xué)顯微鏡不同,掃描電鏡所成的是電子像,因此,只有黑白兩色;并且掃描電鏡的試樣要求導(dǎo)電,對(duì)非導(dǎo)體和部分半導(dǎo)體需要進(jìn)行噴金或噴碳處理,否則電荷聚集在樣品表面就影響樣品的觀察。此外,掃描電鏡圖像景深遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于光學(xué)顯微鏡,是檢測(cè)環(huán)保低溫焊錫絲金相結(jié)構(gòu)、顯微斷口以及錫須分析的重要方法。
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