說(shuō)明：
無(wú)鉛環(huán)保焊錫條如何選擇PCB焊盤(pán)涂覆層 目前無(wú)鉛環(huán)保焊錫條的無(wú)鉛工藝常用的PCB涂覆層中，HASL、OPS、ENIG最為常見(jiàn)。這些涂覆層各有優(yōu)缺點(diǎn)，在選擇這些涂覆層時(shí)，要兼顧成本、板材類(lèi)型、焊接工藝所用的助焊劑等工藝材料，以及工藝次數(shù)等，做到材料兼容、工藝適應(yīng)性好。 HASL涂覆層由于與焊接用的無(wú)鉛環(huán)保焊錫條兼容性好、成本低而受歡迎，而且焊接后的焊點(diǎn)強(qiáng)度較高、可靠性好，即便是空焊盤(pán)，由于HASL焊料覆蓋，也不容易受環(huán)境影響發(fā)生腐蝕或遷移。但由于其涂覆層不平整，不適用于細(xì)小間距的SMT工藝，因此HASL層適合用于組裝密度不高的印制板上。OSP膜由于其膜厚均勻、平面性好、成本低、符合無(wú)鉛環(huán)保焊錫條要求，且獲得的焊點(diǎn)強(qiáng)度高等優(yōu)點(diǎn)而應(yīng)用廣泛，特別是早期成為取代無(wú)鉛HASL、解決細(xì)窄間距元器件焊接問(wèn)題的有效選擇。選用OSP涂覆層時(shí)要考慮其膜厚，膜太薄容易破損和劣化，不能良好地保護(hù)銅層，太厚焊接時(shí)不易分解影響焊接；同時(shí)還要考慮其儲(chǔ)存條件、儲(chǔ)存時(shí)間；另外因?yàn)镺SP膜容易破損以及耐熱較弱等問(wèn)題。對(duì)于無(wú)鉛焊錫絲來(lái)說(shuō)選擇PCB涂覆層也要考慮這些問(wèn)題。 詳情請(qǐng)咨詢(xún)深圳市興鴻泰錫業(yè)有限公司，電話：400-9957-898，網(wǎng)址：http://941455.cn/casest/casest/1014.html
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無(wú)鉛、無(wú)鹵印制板與焊錫絲等工藝輔料的兼容性問(wèn)題 由于印制板阻礙焊劑和焊盤(pán)的表面涂覆層可能還會(huì)與焊錫絲、助焊劑、清洗劑以及三防漆等工藝輔助材料存在不兼容的問(wèn)題，因而必須考慮印制板與上述這些無(wú)鉛無(wú)鹵工藝輔料的兼容性。因此會(huì)將印制板與待用的工藝輔料，如焊錫絲、助焊劑、焊錫條、三防漆（適用時(shí)）模擬焊接后再進(jìn)行電化學(xué)遷移（ECM）測(cè)試，評(píng)估其腐蝕性和電絕緣性能，以考察印制板與焊錫絲等工藝輔料的兼容性，避免出現(xiàn)測(cè)試或評(píng)估的結(jié)果，選用兼容性好的印制板。 詳情請(qǐng)咨詢(xún)深圳市興鴻泰錫業(yè)有限公司，電話：400-9957-898，網(wǎng)址：http://941455.cn/casest/casest/1014.html
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無(wú)鉛免洗焊錫絲如何選擇化學(xué)浸銀和化學(xué)浸錫涂覆層 化學(xué)浸銀因銀層平整、銀層本身與無(wú)鉛免洗焊錫絲兼容性好、導(dǎo)電性良而受歡迎。但在焊接過(guò)程中產(chǎn)生大量的界面微孔和氣泡導(dǎo)致無(wú)鉛免洗焊錫絲焊點(diǎn)強(qiáng)度不夠；同時(shí)由于與ENIG有相似的“賈凡尼”效應(yīng)，發(fā)生焊盤(pán)腐蝕，如導(dǎo)線連接盤(pán)處銅發(fā)生電化學(xué)遷移而腐蝕斷裂的典型不良等。這類(lèi)涂覆層通常與配方材料以及表面涂覆工藝參數(shù)控制有關(guān)，其他焊錫絲在焊接化學(xué)浸銀涂覆層時(shí)要多加注意。 化學(xué)浸錫工藝也是由于錫的兼容性好、平整，而成為無(wú)鉛HASL的替換涂覆層，解決高密度組裝的問(wèn)題。但由于其厚度較薄，在無(wú)鉛免洗焊錫絲焊接過(guò)程中容易合金化很難承受2次以上的焊接，同時(shí)出現(xiàn)不能接受的“錫晶須”現(xiàn)象，目前此類(lèi)涂覆層應(yīng)用不多，主要應(yīng)用在雙面板、可靠性要求相對(duì)不高的產(chǎn)品中。 詳情請(qǐng)咨詢(xún)深圳市興鴻泰錫業(yè)有限公司，電話：400-9957-898，網(wǎng)址：http://941455.cn/casest/casest/1014.html
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用掃描電子顯微鏡分析環(huán)保低溫焊錫絲失效原因 在環(huán)保低溫焊錫絲與其他環(huán)保焊錫絲焊點(diǎn)或互連的失效分析方面，掃描電子顯微鏡主要用來(lái)做失效機(jī)理的分析，具體說(shuō)來(lái)就是用來(lái)觀察環(huán)保低溫焊錫絲焊點(diǎn)金相組織，測(cè)量金屬間化合物，進(jìn)行斷口分析、可焊性鍍層分析以及錫須分析測(cè)量。與光學(xué)顯微鏡不同，掃描電鏡所成的是電子像，因此，只有黑白兩色；并且掃描電鏡的試樣要求導(dǎo)電，對(duì)非導(dǎo)體和部分半導(dǎo)體需要進(jìn)行噴金或噴碳處理，否則電荷聚集在樣品表面就影響樣品的觀察。此外，掃描電鏡圖像景深遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于光學(xué)顯微鏡，是檢測(cè)環(huán)保低溫焊錫絲金相結(jié)構(gòu)、顯微斷口以及錫須分析的重要方法。 詳情請(qǐng)咨詢(xún)深圳市興鴻泰錫業(yè)有限公司，電話：400-9957-898，網(wǎng)址：http://941455.cn/casest/casest/1014.html
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X射線能譜分析焊錫絲焊點(diǎn)失效 我們上篇所說(shuō)的掃描電鏡（SEM）一般都是配有X射線能譜儀分析焊錫絲、焊錫條焊點(diǎn)失效的原因。當(dāng)高能的電子束撞擊樣品表面時(shí)，表面物質(zhì)的原子中的內(nèi)層電子被轟擊逸出，外層電子向低能級(jí)躍遷時(shí)就會(huì)激發(fā)出特征X射線，不同元素的原子能級(jí)差不同，所發(fā)射的特征X射線就不同，因此，可以將樣品發(fā)出的特征X射線作為化學(xué)元素成分分析。 在焊錫絲焊點(diǎn)的分析上，能譜儀主要用于焊點(diǎn)金相組織成分分析、可焊性不良的焊盤(pán)與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準(zhǔn)確度有限，低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結(jié)合使用可以同時(shí)獲得表面形貌與成分的信息，能更全面的分析焊錫絲焊點(diǎn)失效的原因，這是它們應(yīng)用廣泛的原因所在。 詳情請(qǐng)咨詢(xún)深圳市興鴻泰錫業(yè)有限公司，電話：400-9957-898，網(wǎng)址：http://941455.cn/casest/casest/1014.html
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用染色與滲透分析五金專(zhuān)用焊錫絲焊點(diǎn)失效 對(duì)于BGA類(lèi)型的五金專(zhuān)用焊錫絲焊點(diǎn)的裂紋，一般顯微鏡以及X光透視都無(wú)法檢測(cè)到，即使切片也不知從哪切起，這時(shí)就用到了染色與滲透技術(shù)。這是一種簡(jiǎn)單實(shí)用的焊點(diǎn)缺陷定位技術(shù)，可惜是破壞性的，但是可以得到裂紋或空洞分布以及裂紋開(kāi)裂界面的重要信息。其基本原理與方法是，通過(guò)將PCBA樣品置于紅色的染色液中，讓染色液充分滲透到有裂紋或孔洞的地方，取出干燥后強(qiáng)力垂直剝離已經(jīng)焊上的元器件，其引線腳與焊盤(pán)將從有裂紋或孔洞等薄弱界面分離，元器件分離后發(fā)現(xiàn)被染紅的焊點(diǎn)界面將指示該處在強(qiáng)行剝離前存在缺陷，即焊點(diǎn)缺陷部位被檢測(cè)到。通過(guò)這一方法，可以檢測(cè)失效或缺陷焊點(diǎn)的分布，確定開(kāi)裂的有問(wèn)題的五金專(zhuān)用焊錫絲焊點(diǎn)集中在哪些區(qū)域，這對(duì)改進(jìn)工藝非常有幫助，同時(shí)也可以為金相切片定準(zhǔn)位置。在強(qiáng)行剝離元器件后，被染色的開(kāi)裂的界面就是事前存在的缺陷，仔細(xì)觀察開(kāi)裂分離的界面，就可以判斷是工藝存在問(wèn)題、是PCB質(zhì)量問(wèn)題、還是元器件的問(wèn)題。在很大程度上解決了五金專(zhuān)用焊錫絲焊錫絲以及其他焊錫絲、焊錫條等焊點(diǎn)失效的檢測(cè)問(wèn)題。 詳情請(qǐng)咨詢(xún)深圳市興鴻泰錫業(yè)有限公司，電話：400-9957-898，網(wǎng)址：http://941455.cn/casest/casest/1015.html